你即將離開本站

並前往https://www.coretechint.com/zh-hans/technical_info/theory_detail/2/

TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料

基本原理. 指带有几千电子伏特能量的一次离子束入射样品表面，在作用区域激发出不同粒子包括二次电子、中性微粒、二次离子、反射离子等，通过不同的探测器采集不同微粒 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims原理」的人也找了：

  1. tof sims原理
    2.
  2. tof sims xps比較
    3.
  3. 二次離子質譜
    4.
  4. tof sims分析
    5.
  5. 飛行時間質譜儀原理
    6.
  6. 二次離子質譜儀台灣
    7.
  7. 二次離子質譜儀ppt
    8.
  8. Secondary Ion mass Spectroscopy
    9.