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TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站

三、设备原理. 飞行式二次离子质谱（TOF-SIMS）是超真空环境下向样品射入一次离子束，从样品的浅表层（1-3 nm）释放出二次离子。将二次离子导入飞行时间（TOF型）质谱 ...

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