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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍 - 嘉峪检测网

上述特点使TOF-SIMS在材料的成份、掺杂和杂质沾污等方面的分析中拥有不可替代的地位。 2.原理. 1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击， ...

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