你即將離開本站

並前往https://www.yiqi.com/daogou/ercilizizhipuyi.html

二次离子质谱仪原理、发展和分类

二次离子质谱仪（SIMS）用高能电离轰击样品表面，这导致样品表面上的原子或原子团吸收能量并通过溅射产生二次粒子。这些带电粒子通过质量分析器后，可以获得有关样品 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims原理」的人也找了：

  1. tof sims原理
    2.
  2. tof sims xps比較
    3.
  3. 二次離子質譜
    4.
  4. tof sims分析
    5.
  5. 飛行時間質譜儀原理
    6.
  6. 二次離子質譜儀台灣
    7.
  7. 二次離子質譜儀ppt
    8.
  8. Secondary Ion mass Spectroscopy
    9.