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TOF-SIMS基本原理、技术特点、应用案例，当堂答疑一分不花！

飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS），使用一次脉冲离子入射固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量, 以表征材料表面的元素 ...

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