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二次離子質譜(SIMS)分析技術及應用 - 資訊咖
二次離子質譜(Secondary Ion Mass Spectroscopy,SIMS)是現代表面分析技術中重要的組成之一。它是利用一次離子束轟擊材料表面,通過質譜分析器檢測 ...
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