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淺析表面分析與XPS的技術與市場 - 壹讀

TOF-SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術，可以精確確定樣品表面元素的構成：通過對分子離子峰和官能團碎片的分析可以方便的確定表面化合物和有機樣品的結構 ...

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