你即將離開本站

並前往https://m.antpedia.com/news/2304398.html

二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网

SIMS 用一次离子束轰击表面，将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子，然后飞行时间或者磁偏转质谱仪分析离子的荷/质比，便可知道表面的成份；它是一种 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims分析原理」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. tof sims xps比較
    5.
  5. sims量測
    6.
  6. sims表面分析
    7.
  7. 飛行時間質譜儀原理
    8.
  8. sims半導體
    9.