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聚合物表面和界面分析之XPS和tof-sims的原理 - 材料与测试网

本文将通观x射线光电子能谱（XPS或称ESCA）和质谱仪（tof-sims）。这两种技术是最有用的分析技术，用于研究聚合物表面和界面的化学结构。

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