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TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜儀) - 華人百科

TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通過用一次離子激發 ... 分析，而其更重要的特點是只要降低脈衝的重複頻率就可擴展質量範圍，從原理上不 ...

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