你即將離開本站

並前往http://www.iontof.com.cn/liangmi123/vip_doc/7653215.html

飞行时间二次离子质谱将在材料表面分析领域大有所为

相对于XPS、AES等表面分析方法，TOF-SIMS可以分析包括氢在内的所有元素，可以分析包括有机大分子在内的化合物，具有更高的分辨率。 原理图.png. 2013年，德国ION-TOF ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims分析原理」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. tof sims xps比較
    5.
  5. sims量測
    6.
  6. sims表面分析
    7.
  7. 飛行時間質譜儀原理
    8.
  8. sims半導體
    9.