你即將離開本站

並前往http://tmubt.azurewebsites.net/archives/6640

二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會

TOF-SIMS其基本原理是利用一次離子束，以一定的入射角度撞擊樣品原子層表面造成離子化後，由質量分析器（mass analyzer）依據其質荷比（m/z）進行偵 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims分析原理」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. tof sims xps比較
    5.
  5. sims量測
    6.
  6. sims表面分析
    7.
  7. 飛行時間質譜儀原理
    8.
  8. sims半導體
    9.