你即將離開本站

並前往https://kknews.cc/zh-tw/science/2olr65y.html

二次離子質譜（SIMS）分析技術及應用 - 每日頭條

二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）是現代表面分析技術中重要的組成之一。它是利用一次離子束轟擊材料表面，通過質譜分析器檢測 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims分析原理」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. tof sims xps比較
    5.
  5. sims量測
    6.
  6. sims表面分析
    7.
  7. 飛行時間質譜儀原理
    8.
  8. sims半導體
    9.