高級顯微鏡:雙光束- FIB(FIB成像服務) · FIB分析徹底改變了TEM樣品的樣品製備,使得識別亞微米特徵和精確製備橫截面成為可能。 · FIB 製備的切片廣泛用於SEM 顯微鏡,其中 ...
確定! 回上一頁