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TEM/STEM(穿透式電子顯微鏡/掃描穿透式電子顯微鏡) - 歐陸檢驗
使用高能量電子束,讓超薄樣品的圖像分辨率可以達到1-2Å的解析度。和SEM相比,TEM和STEM具有更好的空間解析度,並且能夠作額外的分析測量,但需要更多的 ...
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