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名針探精準定位讓奈米電性量測找出缺陷 - 科技新報

而宜特科技故障分析實驗是的奈米探針電性量測（Nano-Probing）對上述問題有極大幫助，奈米探針系統是由奈米探針與掃描式電子顯微鏡（SEM）兩者結合而 ...

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