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材料分析 - Ardentec

掃描式電子顯微鏡 (SEM); 元素分析(EDS). 掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描，以收集二次 ...

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