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掃瞄式電子顯微鏡/X-射線能譜分析法(SEM/EDX)應用於纖維鑑定

掃描式電子顯微鏡 (scanning electron microscope, SEM)係利用電子成像原理，放大倍率可達數十萬倍，用於觀察樣品表面顯微型態特徵；X-射線能譜儀(energy dispersive ...

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