超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡CFE-SEM. 儀器性能:. 1. CFE-SEM 主體:超高真空、低真空、BEI 樣品表面及立體結構之觀察。 2. 鍍金(碳)機:在樣品表面鍍導電金膜、 ...
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