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製備多孔性碳化矽陶瓷之研究 - 中國鑛冶工程學會

結後的試片之晶粒顆粒大小及顯微結構是以掃瞄式電子顯微鏡(SEM, Hitachi S-3000N) 觀察之；. 利用雷射粒度分佈儀(BECKMAN COULTERTM) 量測碳化矽粉末的粒度分佈。

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