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新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁

確定點SEM 的試片，而將此工具結合離子減薄. 機，則可以研磨得到精確定點TEM 的試片，值得. 一提的是這種技術可以做出又長又寬的薄區。 本文介紹一種新的而由張宏先生 ...

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