SEM 可提供樣品表面高解析度且長景深的圖像,極利於微小區域的觀察,同時結合EDS(X-射線能量散布能譜)的元素分析,讓SEM/EDS成為半導體實驗室不可或缺的重要儀器。 設備種類 ...
確定! 回上一頁