TEM 成像時可擷取穿透電子束或彈性散射電子束，亦可. 做繞射圖型以分析樣品結構(晶體結構)。 利用TEM 之功能，主要有以下兩種領域的分析：. 圖九：電顯SEM 原理展示[註 ...
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