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掃描電子顯微X 射線能譜分析法在微量證物鑑識的應用

Scanning electron microscopy /energy dispersive X-ray spectrometry (SEM/EDS) is a ... 二、微量證物分析原理 ... 能量與二次電子重疊，但習慣上將能量≤ 50 eV 的.

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