你即將離開本站

並前往https://www.eurofins.tw/eag/%E5%88%86%E6%9E%90%E6%8A%80%E8%A1%93/sem-%E6%8E%83%E6%8F%8F%E5%BC%8F%E9%9B%BB%E5%AD%90%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1/

SEM(掃描式電子顯微鏡) - 歐陸檢驗

偵測訊號：二次電子、背向散射電子和X-射線，吸收電流、光（陰極發光）和感應電流（EBIC） ; 偵測元素：B-U（EDS） ; 偵測限制條件：0.1-1at% ; 深度解析度： ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sem二次電子」的人也找了：

  1. 二次電子原理
    2.
  2. 二次電子背向散射電子差別
    3.
  3. sem原理
    4.
  4. 二次電子如何產生
    5.
  5. 背向散射電子原子序
    6.
  6. 二次電子成像
    7.
  7. sem背向散射電子
    8.
  8. sem應用
    9.