你即將離開本站

並前往https://www.ma-tek.com/zh-TW/services/index/FIB

聚焦離子束顯微鏡（FIB） - MA-tek 閎康科技

但是若是離子束沒有對準這些方向，在表層即會和樣品原子產生碰撞，而有較多的二次電子或背向散射的入射離子產生，信號偵測器所收到的信號較強。

確定！ 回上一頁

查詢 「sem二次電子」的人也找了：

  1. 二次電子原理
    2.
  2. 二次電子背向散射電子差別
    3.
  3. sem原理
    4.
  4. 二次電子如何產生
    5.
  5. 背向散射電子原子序
    6.
  6. 二次電子成像
    7.
  7. sem背向散射電子
    8.
  8. sem應用
    9.