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掃描式電子顯微鏡SEM (Scanning Electron Microscope)

由電子束激發的原子發射的二次電子（secondary electron）。 · 根據要觀察的為區域可選擇6萬倍率、15萬倍率及30萬倍率。 · 根據所需情況可以選擇SE、BSE及SE+BSE檢測器以符合 ...

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