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超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡CFE-SEM

2. 購置日期: 2017 年12 月. 3. 運作日期: 2018 年5 月. 4. 儀器規格: (1) 二次電子解析：0.8nm(15KV)、1.1nm(1KV). (2) 放大倍率：LM(低倍率)20-2,000X、HM(高 ...

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