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超音波探傷検査（SAT・C-SAM）｜解析（故障／良品）・観察 ...

OKIエンジニアリングでは超音波探傷検査法（SAT,C-SAM）を用いて、半導体パッケージ、セラミック、金属、樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を検出 ...

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