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sat 超音波

SAT超音波 可用來檢測晶片元件內部不同位置的脫層(Delaminaiton)、裂縫(Crack)、氣洞及粘著狀況，用於檢察IC封膠內缺陷。SAT是藉由超音波於不同密度材料之反射速率及 ...

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