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動態電性故障分析 - 華證科技

當IC 屬於功能性失效, 而且需針對IC 內部信號量測與分析，以電光效應偵測IC 內部微小信號來量測波型與時序, 進而偵錯與分析IC問題。 LVX案例分享. 設備能量. Equipment ...

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