你即將離開本站

並前往https://ir.nctu.edu.tw/bitstream/11536/50904/1/361001.pdf

資料探勘技術在晶圓針測誤宰分析之應用Applying Data Mining ...

V40：主要是比對CP1（晶圓第一道測試）與CP2（晶圓第二道測試）的良. 品晶粒顆數差異，若超過設定的標準值，就觸發此一偵測條件。正常狀況下，. CP1 若被判為良品的晶粒， ...

確定！ 回上一頁

查詢 「san值測試」的人也找了：

  1. san值計算
    2.
  2. san值ptt
    3.
  3. san值歸零
    4.
  4. san值狂掉意思
    5.
  5. san值狂掉
    6.
  6. san值奈亞子
    7.
  7. san值遊戲
    8.
  8. san值提升
    9.