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一种用于三维闪存测试的低成本PMU电路 - 微电子学与计算机

为了改善3D NAND测试机价格昂贵导致的闪存芯片成本过高的问题，提出了一种新的基于FPGA的用于3D NAND闪存芯片直流参数测试的低成本PMU(精密测量单元)电路.利用FPGA灵活的可 ...

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