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借助PAT測試實現半導體元件的零缺陷製造 - 電子工程專輯.

美國汽車電子委員會AEC-Q001規格推薦了一種通用方法，該方法採用零件平均測試(Part Average Testing，PAT)方法將異常零件從總零件中剔除，因而在供應 ...

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