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半導體第三章

3.1.3 霍爾效應（ Hall Effect ） <ul><li>可測得試片為n 型或p 型、載子濃度以及遷移率。 </li></ul>量測裝置如左圖： 試片中的電子及電洞為運動中的帶電粒子， ...

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