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半導體光學檢測美大廠聞風而至

... Overlay疊對量測、三維關鍵尺寸量測，以及整合三維功能來量測階高及表面粗糙度；對於不適用市售量產型設備、或無法以二手機台因應的晶圓工廠終端客戶 ...

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