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奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 - 材料世界網

1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; ... s-SNOM原理是利用AFM的探針尖端與樣品表面之間的電磁交互作用所產生的散射光 ...

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