你即將離開本站

並前往http://www.etop.org.tw/index.php?c=adm11252&d=adm&i=103578

成果報告資料顯示 - 工程科技推展中心

IC 測試可分成CP (chip probing)與FT(final test)測試，其中CP 測試是要測出每顆IC 的毀損位元與失效位元，而FT(final test)測試，主要係要檢測金線連接不良以及open-short ...

確定！ 回上一頁

查詢 「open short測試機」的人也找了：

  1. Power short 測試原理
    2.
  2. 電路 Open short
    3.
  3. O s Test
    4.