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更清楚・微細深孔之非接觸透視先進封裝關鍵尺寸AI-powered ...

... 測出高深比盲孔的多項精密關鍵尺寸資訊。 AI-powered光學量測技術以光譜反射法及散射量測法為基礎，其技術優勢在於運用雷射寬頻光源作為光學偵測方式 ...

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