你即將離開本站

並前往https://zhuanlan.zhihu.com/p/138974934

半导体量测检测包括什么？

光学方法测关键尺寸（OCD，Optical Critical Dimension），原理同THK，但加了一套立体建模的算法。这是组强大的3D建模组件，熟练其功能，几乎没什么画不出的结构。 层与层 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「ocd量測」的人也找了：

  1. optical critical dimension原理
    2.
  2. 量測gof值
    3.
  3. 橢偏儀量測
    4.
  4. gof值半導體
    5.
  5. ellipsometry量測
    6.
  6. TCD 半導體
    7.
  7. RI 值 半導體
    8.
  8. 橢圓測厚儀原理
    9.