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FT 膜厚量測技術分析 - AOIEA
薄膜量測方法是利用光穿過介質會產生相位差,及於介面上會產生反射及穿透之特性,由薄膜. 兩個界面的光能量產生干涉的現象如圖一所示,可取得反射及穿透光譜如圖二所示,將 ...
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