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CN104769390A - 用x射线测量薄膜厚度的方法和设备 - Google
使用X射线的非接触式厚度测量装置可以使得穿透目标对象的量子X射线的量通过检测 ... 为了说明本发明的原理,在下文中出于图示、范例和描述的目的报告了涉及其优选实施 ...
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