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定義概述CV測量是半導體特徵分析與測試的基礎。 電容-電壓

... 電壓測試長期以來被用於判斷多種不同器件和結構的各種半導體參數，範圍從MOSCAP、MOSFET、雙極結型電晶體 ... 交流阻抗表這類電錶（如圖1所示）工作原理相對簡單。

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