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半導體C-V測量入門(1) - 人人焦點

電容-電壓（C-V）測試廣泛用於測量半導體器件，尤其是MOSCAP和MOSFET結構 ... MOSFET電晶體也具有類似的基本原理，只是它們的物理結構和摻雜情況更加 ...

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