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觀察樣品截面時，該如何選擇試片製備與觀察工具？ - MA-tek

... Ion milling : 又叫作CP(cross-section polishing)，為了讓截面更細緻，去除研磨應力所產生的裂痕與刮痕，利用離子束的方式再對截面做細修處理 ...

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