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封裝打線強度試驗(Wire Bond Test) - iST宜特

IC進行封裝時，需利用金屬線材，將晶片(chip)及導線架(lead frame)做連接，由於封裝時，可能有強度不足與汙染的風險。此實驗目的，即為藉由打線 ...

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