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飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）

分析這些次級離子可提供有關表面上存在的分子、無機和元素種類的信息。 例如，如果表面吸附了油等有機污染物，TOF-SIMS 會顯示這些信息，而其他技術可能不會，特別是在 ...

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