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使用二次離子質譜法測定低K材料的深度剖面- SIMS - EAG ...

Low -K薄膜由多種成分製成，通常沒有標準樣品可用於SIMS數據定量。 在EAG實驗室，我們已經解決了這些問題。 EAG可提供深度剖析表征服務，包括：. 測量H，C， ...

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