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A 半導體積體電路測試概論第十二章排除問題的方法 - 白安鵬

當失效(Fail)發生時，以下是可能引起的原因: ◇來自Device本身的問題(Device Issues)。 ◇測試硬體介面問題(Load Board， Test Socket，Pogo Pin) ...

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