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LED特性| 過程控制| EAG實驗室

結構. 可以使用SEM（掃描電子顯微鏡）成像和EDS（能量分散X射線光譜）分析在橫截面中檢查包裝和支撐結構的材料和佈局。 熒光粉. LED芯片中和周圍的材料識別可以包括 ...

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